標準簡介：GB/T17626的本部分給出了利用各種 TEM 波導進行電子和電氣設備發(fā)射和抗擾度試驗的方法。TEM 波導有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM 室),還可以進一步分為單端口、雙端口和多端口波導。TEM 波導的適用頻率范圍取決于具體的試驗需求和 TEM 波導的具體類型。本部分的目的是給出:———TEM 波導的性能,包括典型的頻率范圍和對 EUT 尺寸的限制;———用于電磁兼容(EMC)試驗的 TEM 波導的確認方法;———EUT(即 EUT 殼體和連接電纜)的定義;———在 TEM 波導中進行輻射發(fā)射試驗的試驗布置、步驟和要求;———在 TEM 波導中進行輻射抗擾度試驗的試驗布置、步驟和要求。注:本部分規(guī)定的試驗方法用于測量所關心設備的電磁輻射抗擾度和輻射發(fā)射。電磁輻射的模擬和測量結果對于定量確定較終安裝使用狀態(tài)下的電磁效應是不夠準確的,規(guī)定試驗方法的主要目的是保證定性分析電磁效應使用的不同試驗設備所得試驗結果的重復性。本部分的目的不是規(guī)定適用于任意特定產品或系統(tǒng)的試驗方法,而是為所有感興趣的產品委員會提供通用的基礎性參考。對于輻射發(fā)射試驗,產品委員會應參考國際無線電干擾特別委員會(CISPR)標準1)選擇發(fā)射限值和試驗方法。對于輻射抗擾度試驗,由產品委員會負責對其管轄范圍內的設備選擇合適的試驗方法和抗擾度限值。本部分描述的試驗方法獨立于 GB/T17626.32)。

標準號：GB/T 17626.20-2014

標準名稱：電磁兼容 試驗和測量技術 橫電磁波（TEM）波導中的發(fā)射和抗擾度試驗

英文名稱：Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Emission and immunity testing in transverse electromagnetic(TEM) waveguide

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現行

發(fā)布日期：2014-12-22

實施日期：2015-06-01

中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>電子元器件與信息技術綜合>>L06電磁兼容

國際標準分類號（ICS）：33.100.10;33.100.20

起草單位：東南大學、上海出入境檢驗檢疫局、中國電力科學研究院、上海市計量測試技術研究院、中國電子技術標準化研究院、中國計量科學研究院

歸口單位：全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC246)

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.